WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪 | GU OPTICS
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪
WaveMaster® PLAN适用于使用夏克哈特曼传感器的波前分析对平面进行质量检查。
产品特点
  • 平面光学元件的综合波前分析
  • 快速简便的测量:手动放置样品,并通过X-Y表进行调整
  • 通过抗振结构实现稳定且与环境无关的测量系统
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