噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

激光

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光学材料

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光测量

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光放大

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光脉冲

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光通信

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光谐振腔

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光纤光学及波导

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

光学设备及器件

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

非线性光学

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

量子光学

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

物理基础

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

波动和噪声

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

研究方法

噪声性能指标(noise specifications)

定义：
激光器噪声特性规范。

例如激光输出的噪声强度通常需要量化--特别是在频率测量、敏感光谱测量或光纤通信等应用场合，其中设备或系统的性能受到噪声的限制。

激光器和光放大器噪声规格举例
强度噪声通常是通过分析激光输出与光电二极管和相关的电子设备，如电子光谱分析仪测量。它可以指定的功率谱密度的相对强度噪声作为噪声频率的函数。为了某些目的，均方根（RMS）值的平方根，本质上是对功率谱密度的积分超过一定的频率范围（1赫兹–1兆赫），是足够的。然而，均方根值没有测量带宽规格是荒谬的。带宽确定如下：

较高的频率限制通常由光电探测器（包括检测电子）的速度决定.。显然，一个缓慢的检测器是不能够记录快速波动，因此表示较弱的噪声比一个快速检测器。数字录音，测量带宽为采样频率的一半（→Nyquist定理），而在实践中往往更低，低通滤波已被应用在采样之前为了避免混叠效应。
较低的频率限制大约是逆测量时间。当强度波动被记录在一些有限的时间间隔，人们不能知道多少的平均记录的功率偏离平均功率超过较长的时间。因此，噪声的影响的频率低于逆测量时间被抑制。

光学相位噪声可以用功率谱密度（PSD）量化的相位波动。另外，对瞬时频率波动的PSD可以指定。这样的功率谱密度往往发散为零频率，所以集成到零频率是不可能的。简单的随机行走过程，一个连贯的时间或相干长度或一个linewidthvalue规格可适当。注意线宽值通常取决于测量时间。
频率噪声与相位噪声直接相关，它是瞬时频率的噪声，后者与相位的时间导数有关。
一列脉冲的定时抖动可以被量化为时间差的功率谱密度（例如一些无声的参考）或定时相位。这也是常见的指定一定范围内的噪声频率的有效值。
在频率计量中，使用艾伦偏差或艾伦方差作为时间函数是常见的.。这些数量可以计算出的功率谱密度，而相反的计算是不明确的。
电子或光学放大器的噪声系数量化放大器的过量噪声。
在频率测量，通常使用归一化相位波动x（t） = δφ（T） / （2π ν0），即相位波动除以平均角频率。归一化相位波动的时间导数，然后提供归一化的频率波动y（t），即，相对于平均频率的瞬时频率的波动。对不同频率源的相位噪声比较，现在去比较合适的功率谱密度Sx（f）归一化相位波动或Sy（F）的归一化频率的波动，而不是相位或频率漂移本身，因为这些标准的波动是什么决定了精度和时钟如准确。

环境条件
激光噪声通常取决于环境条件。因此，显然是必要知道什么是环境条件，某些规格适用。特别地：

它是否适用于恒定的室温，或在允许的操作温度范围内的任意温度变化？
它是有效的后立即打开设备，或只有在很长的预热时间？
是一个无振动的环境假设？

后者是特别重要的波束指向波动的规格。
这是不容易指定的环境噪声源，如振动的影响下的激光噪声，因为它是难以量化这些影响。此外，它们的影响可能强烈地依赖于噪声频率：一个机械装置可能有一些共振，使设备在某些频率的振动非常敏感。

常见问题
出于各种原因，正确的噪声规格往往没有达到：

噪声的数学描述是复杂的，往往没有适当的物理或工程课程处理。作为一个结果，无意义的噪声规格在产品数据表中普遍存在，甚至在科学文献。
激光物理，有各种不同类型的噪声，这在概念上和不可见的方式身体相关的（例如：光相位噪声和定时锁模激光器相位噪声）。因此，物理洞察力和数学知识一样重要。
噪声测量受许多不平凡的技术问题。例如，电子频谱分析仪的内部工作的详细知识，需要获得正确的测量结果，这样的设备。黑盒处理（使用不知道它们是如何产生的设备读数）容易导致错误的结果，例如通过不适当的设备设置或未能应用某些校正因子（例如，在频谱分析仪对数平均）。

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