WaveMaster® IOL
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Product No. 750142
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| 产品系列 | WaveMaster® IOL | OptiSpheric® IOL |
| 可测量参数 | 屈光度、EFL、MTF、PSF、角膜散光度（柱镜度）、低阶和高阶像差 | 屈光度、EFL、MTF、PSF、角膜散光度（柱镜度）、曲率半径（R）、后截距（BFL） |
| EFL测量精度 | 0.1%…0.3% | 0.1%…0.3% |
| 屈光度测量范围 |
直接测量时：
扩展测量时：
使用模拟角膜时：
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直接测量时：
使用模拟角膜时：
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| 屈光度测量精度 | 0.1%…0.3% | 0.1%…0.3% |
| MTF测量精度 | +/-0.02 MTF | +/-0.02 MTF（0-300lp/mm） |
| 测量时间 | 5秒/颗 |
单焦：15秒/颗 多焦：45秒/颗 |
| 测量波长 | 532nm | 546.1nm |
| 特点 | 运用泽尼克多项式分析波前，可测量球差、慧差、像散等 | 测量完全基于ISO11979的标准 |
