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WaveMaster® COMPACT Universal

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Product No. 750116

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产品编号 750114 750115 750116
产品型号 WaveMaster® COMPACT WaveMaster® COMPACT Reflex WaveMaster® COMPACT Universal
测量范围 球面、非球面镜片的光学波前面 镜片、镜头的表面面型

球面、非球面镜片的波前质量镜片、镜头的表面面形

测量模式 透射式 反射式 反射式、透射式
精度指标

微透镜阵列:138×138

波前测量精度:<λ/20 (RMS)

波前测量重复性:<λ/200 (RMS)

波前测量动态范围:2000λ

测量频率:12Hz

微透镜阵列:138×138

表面面形测量精度:<0.050 µm (RMS)

表面面形测量重复性:<0.005 µm (RMS)

表面面形动态范围:> 200 µm

最大非球面度:≤7°

测量频率:12Hz

微透镜阵列:138×138

波前测量精度:<λ/20 (RMS)
波前测量重复性:<λ/200 (RMS)

波前测量动态范围:2000λ

表面面形测量精度:<0.050 µm (RMS)

表面面形测量重复性:<0.005 µm (RMS)

表面面形动态范围:> 200 µm

最大非球面度:≤7°

测量频率:12Hz

传感器类型 WaveSensor 150
样品口径

6mm…14mm

0.5mm…18mm 6mm…14mm
样品焦距

-12mm…50mm

—— -12mm…50mm
样品半径

——

-50 mm…30mm

——

光源

532nm 

635nm

透射模块:532nm

反射模块:635nm
样品夹持器 单孔位,手动调节
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